KAIST, 손전등으로 진위 가리는 ‘인공 지문’ 개발

백색광·레이저 이중 인증…위조 방지 활용

카이스트(KAIST)는 김상욱 신소재공학과 교수 연구팀이 권석준 성균관대 교수 연구팀과 함께 콜로이드 나노 패턴을 활용한 물리적 복제 방지 기술(PUF)을 개발했다고 26일 밝혔다. ⓒ카이스트

스마트폰 손전등이나 레이저 포인터로 제품의 진위를 확인할 수 있는 보안 기술이 개발됐다.

카이스트(KAIST)는 김상욱 신소재공학과 교수 연구팀이 권석준 성균관대 교수 연구팀과 함께 콜로이드 나노 패턴을 활용한 물리적 복제 방지 기술(PUF)을 개발했다고 26일 밝혔다.

연구팀은 나노 입자가 무작위로 모이며 만들어지는 고유한 배열을 제품이나 기기의 ‘인공 지문’으로 활용했다. 같은 재료와 공정을 사용해도 입자의 위치와 방향을 똑같이 재현하기 어렵다는 점을 이용한 방식이다.

일반 백색광을 비추면 입자 배열에 따라 고유한 색과 반사 무늬가 나타난다. 녹색 레이저를 사용하면 별도의 회절 패턴이 만들어진다. 두 정보를 미리 등록한 패턴과 비교해 진위를 판별한다.

기존 고보안 PUF는 복잡한 무작위 구조를 판독하기 위해 고가의 현미경이나 분석장비가 필요했다. 이번 기술은 적절한 무작위성을 지닌 다결정 구조를 적용해 보안성과 판독 편의성을 함께 높였다.

연구팀은 해당 구조를 유연한 고분자와 금속, 투명 전도성 소재, 하이드로겔 등에 구현했다. 전자제품과 사물인터넷(IoT) 기기 인증을 비롯해 명품·미술품·의약품의 위조 방지 라벨 등에 활용될 것으로 기대된다.

향후 스마트폰 카메라나 소형 광학장치와 결합하면 판매·물류 현장이나 소비자가 직접 제품의 진위를 확인하는 인증 시스템으로 발전할 수 있다. 기존 소프트웨어 보안을 보완하는 실용적인 하드웨어 보안 기술로도 확장할 계획이다.

연구 결과는 국제학술지 ‘네이처 커뮤니케이션즈’에 지난달 23일 온라인 게재됐다.

김 교수는 “복제하기 어려운 무작위 구조를 만들면서도 손전등이나 레이저 포인터처럼 간단한 도구로 쉽게 진위를 확인할 수 있게 한 것이 핵심”이라고 말했다.